
試験片 膜厚測定用の測定器スペック
測定機器 | SATO-TECH | ||
測定方法 | F(電磁誘導式) | N(渦電流式) | |
測定範囲 | 0~1250μm | ||
最小測定値 | 0.1μm (膜厚0~50μm時) | ||
1μm(膜厚50~850μm時) | |||
10μm(膜厚850~1250μm時) | |||
測定可能素材 | 磁性金属(鉄)、磁性のSUS(フェライト系430など) ※SUS304は測定不可 |
非磁性金属(アルミ、真鍮、銅、) SUS316、SUS316L |
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測定可能被膜 | ・樹脂塗膜 ・プラスチック ・ラッカー樹脂 ・ゴム ・エナメル ・亜鉛 ・ホーロー・ガラス ・クロム ・スズ ・銅 ・アルミ ・ニッケルを除く メッキ ・金属箔など |
・陽極酸化皮膜 ・アルマイト層 ・ゴム ・プラスチック ・エナメル・ラッカー ・樹脂塗膜ライニング層 ・インキ ・ホーロー ・ガラス ※アルミ/非磁性金属の素地の上のメッキ (金属)膜厚計測はできません。 |
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