試験片の膜厚測定

試験片 膜厚測定用の測定器スペック

測定機器 SATO-TECH
測定方法 F(電磁誘導式) N(渦電流式)  
測定範囲 0~1250μm  
最小測定値 0.1μm (膜厚0~50μm時)  
1μm(膜厚50~850μm時)  
10μm(膜厚850~1250μm時)  
測定可能素材 磁性金属(鉄)、磁性のSUS(フェライト系430など)
※SUS304は測定不可
非磁性金属(アルミ、真鍮、銅、)
SUS316、SUS316L
 
測定可能被膜 ・樹脂塗膜
・プラスチック
・ラッカー樹脂
・ゴム
・エナメル
・亜鉛
・ホーロー・ガラス
・クロム
・スズ
・銅
・アルミ
・ニッケルを除く メッキ
・ 金属箔など
・陽極酸化皮膜
・アルマイト層
・ゴム
・プラスチック
・エナメル・ラッカー
・樹脂塗膜ライニング層
・インキ
・ホーロー
・ガラス
※アルミ/非磁性金属の素地の上のメッキ
(金属)膜厚計測はできません。
 

新着情報 - What's New -

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