試験片 膜厚測定用の測定器スペック
| 測定機器 | SATO-TECH | ||
| 測定方法 | F（電磁誘導式） | N（渦電流式） | |
| 測定範囲 | 0～1250μm | ||
| 最小測定値 | 0.1μm (膜厚0～50μm時) | ||
| 1μm(膜厚50～850μm時) | |||
| 10μm(膜厚850～1250μm時) | |||
| 測定可能素材 | 磁性金属（鉄）、磁性のSUS（フェライト系430など） ※SUS304は測定不可 |
非磁性金属（アルミ、真鍮、銅、） SUS316、SUS316L |
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| 測定可能被膜 | ・樹脂塗膜 ・プラスチック ・ラッカー樹脂 ・ゴム ・エナメル ・亜鉛 ・ホーロー・ガラス ・クロム ・スズ ・銅 ・アルミ ・ニッケルを除く メッキ ・ 金属箔など |
・陽極酸化皮膜 ・アルマイト層 ・ゴム ・プラスチック ・エナメル・ラッカー ・樹脂塗膜ライニング層 ・インキ ・ホーロー ・ガラス ※アルミ/非磁性金属の素地の上のメッキ （金属）膜厚計測はできません。 |
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